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提到zeta電位分析儀，我們需要先了解一下zeta電位，Zeta 電位基礎(chǔ)理論的創(chuàng)立者是波蘭科學(xué)家斯莫魯霍夫斯基（Smoluchowski）zeta電位是帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合，構(gòu)成固定吸附層，又稱Stern層；
另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴散兩種相反作用的平衡，分布在顆粒周圍溶液中，構(gòu)成擴散層.位于Stern層的反離子由于強大靜電吸引聚集在顆粒表面而Stern層外的離子由于靜電吸引較弱，形成了擴散層。兩層之間的邊界被定義為滑動層或剪切層。顆粒做電泳運動時，會帶著固定吸附層和部分溶劑分子一起移動，與液體之間形成滑動面,定義滑動面與液體內(nèi)部的電位差為zeta電位分析儀。
zeta電位分析儀-顯微成像法的特征：
zeta電位儀的密度高或粒徑大的顆粒會沉積在測量室底部。ZetaCompact、采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
1、 一種模塊化工具，用于解決測量從10nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問題，并計算膠體懸浮液的zeta電位儀。
2、激光照明和視頻接口能實現(xiàn)亞微米粒子的測量。
3、石英測量池組裝了兩對鈀電，構(gòu)成*對稱的腔室。
4、動態(tài)安裝，便于接入石英池。清洗后的測量池可快速準確地定位。
5、用快速響應(yīng)微探針原位測量樣品溫度。
6、圖像分析軟件對粒子進行全自動跟蹤。
zeta電位分析儀-顯微成像法的應(yīng)用領(lǐng)域：
1、顏料；
2、礦物浮選；
3、生物學(xué)；
4、免疫學(xué)；
5、乳濁液；
6、微乳液；
7、脂質(zhì)體；
8、水處理；
9、紙漿和紙；
10、陶瓷；
11、聚合物膠乳；
12、納米顆粒；
13、水泥；
14、粘土；
影響Zeta 電位的因素有很多，最主要有三點：
（1）pH的變化
（2）電導(dǎo)率 (濃度，鹽的類型)
（3）組成成分濃度的變化 (如高分子，表面活性劑)
之所以用zeta電位分析儀來檢測樣品，主要是Zeta電位在儀器儀表行業(yè)的重要性表現(xiàn)其數(shù)值與膠體的穩(wěn)定性相關(guān)，是對顆粒之間相互排斥力強度的度量。zeta電位越高，顆粒間排斥力越大,，顆粒分散性越好，體系就越穩(wěn)定；反之，zeta電位越低，顆粒間排斥力越小,體系越不穩(wěn)定，從而導(dǎo)致凝結(jié)或凝聚。一般來說，zeta電位的大于30mV時,體系穩(wěn)定，小于30mV時，體系不穩(wěn)定。
