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晶體出現率分析儀

更新時間：2025-08-26

訪問量：2737

廠商性質：生產廠家

設備型號：ZMP960

簡要描述：

ZMP9 60 晶體出現率分析儀是工作原理是通過專用高分辨率 CCD 線性傳感器和顯微光學掃描平臺，將顆粒圖像信息采集下來并傳輸到計算機中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析。結合智能的背景分離及顆粒邊界搜索算法，將目標顆粒與背景分離，分析出各種測量參數，并通過顯示器和打印機輸出。

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產品介紹：

品牌	其他品牌	產地	國產
產品新舊	全新	自動化程度	全自動

ZMP9 60 晶體出現率分析儀是工作原理是通過專用高分辨率 CCD 線性傳感器和顯微光學掃描平臺，將顆粒圖像信息采集下來并傳輸到計算機中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析。結合智能的背景分離及顆粒邊界搜索算法，將目標顆粒與背景分離，分析出各種測量參數，并通過顯示器和打印機輸出。

晶體出現率分析儀具有超大測量范圍及高分辨率，同時具有直觀、可視、準確、操作簡單、測量參數全面等特點。能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的新型顆粒分析儀器。

產品介紹：ZMP960晶體出現率分析儀，可以直接對透明貼劑中析出的晶體進行掃描，按照規定掃描范圍進行掃描一定的面積，將其中的晶體識別出來并做數量統計。軟件可以內置公式得出晶體出現率。

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